Browsing by Subject "X – Ray Diffraction"
Now showing items 1-1 of 1
-
KARAKTERISASI GIPSUM TIPE III DAUR ULANG MENGGUNAKAN X – RAY DIFFRACTION (XRD)
(2015-12-21)Gipsum tipe III sering digunakan sebagai bahan reproduksi hasil cetakan menjadi model kerja. Hal tersebut didasarkan pada sifatnya yang baik terutama ekspansi pengerasan yang kecil, cukup kuat dan kompatibel terhadap ...